芯片加速老化试验机

深圳固尔琦包装机械有限公司为您提供芯片加速老化试验机。芯片加速老化试验机采用进口耐高温电磁阀双路结构，降低了使用故障率。独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。门锁省力结构，解决产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性. ---效实验运转时间，长时间实验机台运转400小时.水位保详细介绍

　　详细规格：

　　芯片加速老化试验机产品特点：

　　1.采用进口耐高温电磁阀双路结构，降低了使用故障率。

　　2.独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

　　3.门锁省力结构，解决产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

　　4.试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

　　5.---效实验运转时间，长时间实验机台运转400小时.

　　6.水位保护，透过试验室内水位sensor检知保护.

　　7.tank耐压设计，箱体耐压力(150℃)2.65kg，符合水压测试6kg.

　　8.二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

　　9.安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮 .

　　10.偏压测试端子耐压可达3000v(选配)

　　11.usb导出历史记录数据，曲线.

　　芯片加速老化试验机产品链接：

　　http://www.rosh-china.com/sonlist-2127750.html

　　http://www.chem17.com/st442589/


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